| Material |
CEM-3, FR-4 (Tg normal a alta), CTI alto FR-4, poliimida (PI), base de aluminio, Rogers |
| Acabado de la superficie |
HAL, HASL sin plomo, ENIG, Chem Tin, OSP, Gold Finger, Immersion Silver, ENEPIG |
| mín. Grosor del núcleo |
4 mil/0.1 mm |
| Tipo de preimpregnado |
1080, 2116, 7628, 106, 3313, 2165, 1500. |
| Tamaño máximo del tablero |
24.41X47.24 pulgadas/620X1200mm |
| Espesor de cobre |
mín. base cobre 1/3Oz |
| máx. cobre base 10Oz |
| mín. Espesor del tablero |
2 capas 0.2 mm/8 mil |
| 4 capas 0.35 mm/14 mil |
| 6 capas 0.65 mm/26 mil |
| 8 capas 1.0 mm/40 mil |
| 10 capas 1.3 mm/51 mil |
| 12 capas 1.6 mm/63 mil |
| 14 capas 1.8 mm/71 mil |
| 16 capas 2.0 mm/79 mil |
| AOI (Inspección Óptica Automática) |
Tamaño máximo de la mesa: 685X685mm |
| Tamaño máximo de inspección: 620X620mm |
| máx. espesor: 3.20 mm (126 mil) |
| mín. espesor: 0.10 mm (4 mil) -núcleo |
| mín. ancho/brecha: 3mil/3mil |
| Tolerancia del espesor del tablero |
±0.10 mm (4/6 capas) |
| ±0.13 mm (8/10 capas) |
| ±0.15 mm (12/14/16 capas) |
| Espesor máx. |
6.0mm / 236mil |
| Ancho/espacio de línea mín. |
3 / 3mil |
| Tamaño mínimo del agujero |
4 mil/0.1 mm |
| Espesor de pared de PTH |
≧25 µm |
| máx. relación de aspecto |
12:01 |
| PTH diá. Tolerancia |
±0.075 mm/3 mil (estándar), ±0.05 mm/2 mil (avanzado) |
| NPTH diá. Tolerancia |
±0.05 mm/2 mil (en el área laminada) |
| ±0.03 mm (en el área del suelo) |
| Ubicación del orificio Tolerancia |
±0.075 (estándar) ±0.05 mm (avanzado) |
| ±0.13 (ubicación del segundo orificio perforado al primer orificio perforado (mm) |
| Tolerancia de tamaño de ranura |
±0.075mm(grosor del tablero≤1.0mm) |
| ±0.10 mm (grosor del tablero>1.00 mm) |
| V-CUT Tolerancia de espesor restante |
±0.10 mm (estándar), ±0.076 mm (avanzado) |
| Mascarilla pelable Espesor |
≥8 mil (0.2 mm) |
| Resistencia de aislamiento |
> 1012 Ω |
| Agujero pasante Resistencia |
<300Ω |
| Desglose actual |
10A |
| Pele la fuerza |
1.4N / mm |
| Abrasión S/M |
> 6H |
| Estrés termal |
288 ℃ 20 segundos |
| Tensión de prueba |
20-300V |
| Min. ciego/enterrado vía |
4 mil/0.1 mm |
| Control de impedancia |
(50Ω-100Ω)±10%(Standard)、(50Ω-100Ω)±7%(Advanced) |
